汎 銓 FIB
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CEF - 材料分析- 服務項目
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Menu · 材料分析 · TEM/EDS · DB FIB/EDS · SEM/EDS · IC電路修補 · IC Circuit Repair · 故障分析 · TLP · THz-TDR · Thermal EMMI (InSb) · 化性工程分析 · 2D 3D X-ray · 3D ...
DB FIBEDS - 材料分析- 服務項目
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Dual Beam FIB 雙束聚焦離子束. Precision cut for the defectives for different kinds of material. Sample preparation for TEM, SEM, SSRM and special request.
FTIR - 材料分析- 服務項目
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·優勢 · 低噪音數據收集 · 低環境水干擾 · 完整的數據庫 · 圖像ATR（映射模式） · 不定期收集樣本數據 · 輕鬆比較不同樣本 ...
IC Circuit Repair - IC電路修補
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汎銓科技引進台灣第一台電路修補最高階FIB機台Centrios 系列，提供先進製程7 nm 電路修補服務。該機台配備的Tomahawk 離子槍以及ICE 偵測器相較於同業公司現有設備更為 ...
Nano Prober System - 故障分析
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Nano Prober System · 1. 測量MOS 電晶體特性。 · 2. 奈米半導體元件故障失效分析。 · 3. 微奈米結構與奈米加工研究。 · 4. 微機電IC 微結構研究。 · 5. 表面科學研究。
Plasma FIB - 材料分析
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Plasma FIB · 電漿聚焦離子束掃描電子顯微鏡. Plasma Focused Ion Beam - Scanning Electron Microscopes (PFIB) Dual Beam · PFIB Dual Beam應用分享- 案例一 · ·工程聯繫 ...
材料分析- 服務項目
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... 晶片壽命試驗 · 環境應力試驗 · 焊錫品質分析試驗 · 車用電子零件驗證 · PCB產品可靠度試驗 · LED產品可靠度試驗 · TEM/EDS · DB FIB/EDS · SEM/EDS · Plasma FIB.
業務聯繫窗口- 聯絡我們
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FIB(Dual Beam) /SEM 陳小姐分機6211 / E-mail: [email protected]. FIB電路修補分機3688 / E-mail: [email protected]. Decap 吳先生分機3677 / E-mail: ...
汎銓科技~MSScorps
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汎銓科技以奈米碳管結構做為LOGO，公司期盼汎銓成員就像奈米碳管中碳原子一樣，緊密結合、強韌延展，持續強化專業及熱忱特質，扮演好.
汎銓科技可靠度試驗介紹
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汎銓科技為服務廣大客戶群，新建置可靠度實驗室，包含ESD靜電放電測試、IC晶片壽命試驗、環境應力試驗等基礎項目，以實現汎銓科技全方位服務之目標，並結合公司專長的 ...